GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

标准编号：GB/T 41033-2021

标准名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

英文名称：Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

发布日期：2021-12-31

实施日期：2022-07-01

归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会

执行单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会

主管部门：国家标准化管理委员会

起草人

刘智、葛梅、岳红菊、于洪波、耿增建、胡巧玉、谢成民、王斌、姚思远、李海松

起草单位

中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所

标准范围

本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。

本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。

标准文档截图