JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
标准编号：JJG 810-1993
标准名称：波长色散X射线荧光光谱仪检定规程
英文名称：Verification Regulation of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers
发布日期：1993-02-13
实施日期：1993-06-01
归口单位：国家标准物质研究中心
起草人
茅祖兴（国家标准物质研究中心）、梁国立（地矿部岩矿测试技术研究所）、高新华（治金部钢铁研究总院）
起草单位
国家标准物质研究中心
标准范围
本规程适用于新生产、使用中和修理后的各种类型波长色散X射线荧光光谱仪的检定。
X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，产生的荧光X射线通过晶体分光并用探测器测量，根据各种元素特征X荧光谱线的波长和强度进行元素的定性和定量分析。
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