JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范
标准编号：JJF 1236-2010
标准名称：半导体管特性图示仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
归口单位：全国无线电计量技术委员会
起草人
陈连启(中国电子技术标准化研究所)、于利红(中国电子技术标准化研究所)、刘冲(中国电子技术标准化研究所)、蔡福明(北京无线电仪器厂)、徐长风(上海新建电子仪器有限公司)
起草单位
中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器仪表有限公司
标准范围
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。
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