JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范

标准编号：JJF 1236-2010

标准名称：半导体管特性图示仪校准规范

英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

发布日期：2010-01-05

实施日期：2010-04-05

归口单位：全国无线电计量技术委员会

起草人

陈连启(中国电子技术标准化研究所)、于利红(中国电子技术标准化研究所)、刘冲(中国电子技术标准化研究所)、蔡福明(北京无线电仪器厂)、徐长风(上海新建电子仪器有限公司)

起草单位

中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器仪表有限公司

标准范围

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。

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