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JJF 1702-2018 α、β平面源校准规范
标准编号:JJF 1702-2018
标准名称:α、β平面源校准规范
英文名称:Calibration Specification for α、β Planes Source
发布日期:2018-02-27
实施日期:2018-08-27
归口单位:全国电离辐射计量技术委员会
起草人
唐方东(上海市计量测试技术研究院)、何林锋(上海市计量测试技术研究院)、梁珺成(中国计量科学研究院)、徐一鹤(上海市计量测试技术研究院)、张明(中国计量科学研究院)、刘皓然(中国计量科学研究院)
起草单位
上海市计量测试技术研究院、中国计量科学研究院
标准范围
a、β平面源由一定量的a、β放射性核素沉积或结合在确定形状和面积的金属衬底上制作而成,通常放射性核素均匀分布在一面,而衬底厚度足以防止从源的背面发射粒子。
α、β平面源常用于放射性活度测量以及放射性污染监测仪器的刻度、校准与稳定性检验。
本规范适用于表面发射率为(10²~10⁶)min-1的β平面源和表面发射率为(10³ ~ 10⁶)min-1的平面源的校准,β粒子的最大能量大于等于150keV。