JJF 1702-2018 α、β平面源校准规范
标准编号：JJF 1702-2018
标准名称：α、β平面源校准规范
英文名称：Calibration Specification for α、β Planes Source
发布日期：2018-02-27
实施日期：2018-08-27
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会
起草人
唐方东（上海市计量测试技术研究院）、何林锋（上海市计量测试技术研究院）、梁珺成（中国计量科学研究院）、徐一鹤（上海市计量测试技术研究院）、张明（中国计量科学研究院）、刘皓然（中国计量科学研究院）
起草单位
上海市计量测试技术研究院、中国计量科学研究院
标准范围
a、β平面源由一定量的a、β放射性核素沉积或结合在确定形状和面积的金属衬底上制作而成，通常放射性核素均匀分布在一面，而衬底厚度足以防止从源的背面发射粒子。
α、β平面源常用于放射性活度测量以及放射性污染监测仪器的刻度、校准与稳定性检验。
本规范适用于表面发射率为（10²~10⁶）min-1的β平面源和表面发射率为（10³ ~ 10⁶）min-1的平面源的校准，β粒子的最大能量大于等于150keV。
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