JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范

标准编号：JJF 1760-2019

标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范

英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity

发布日期：2019-09-27

实施日期：2020-03-27

归口单位：全国无线电计量技术委员会

起草人

高英（中国计量科学研究院）、李兰兰（中国计量科学研究院）、罗海燕（福建省计量科学研究院）、杨爱军（福建省计量科学研究院）

起草单位

中国计量科学研究院、福建省计量科学研究院

标准范围

本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。

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