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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
标准编号：GB/T 5594.2-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
起草单位
天津大学
标准范围
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。