- GB/T 3298-1991 日用陶瓷器热稳定性测定方法
- GB/T 12848-1991 扭曲向列型液晶显示器件总规范 (可供认证用)
- GB/T 12808-1991 实验室玻璃仪器 单标线吸量管
- GB/T 12806-1991 实验室玻璃仪器 单标线容量瓶
- GB/T 12805-1991 实验室玻璃仪器 滴定管
- GB/T 12804-1991 实验室玻璃仪器 量筒
- GB/T 12803-1991 实验室玻璃仪器 量杯
- GB/T 12809-1991 实验室玻璃仪器 玻璃量器的设计和结构原则
- GB/T 12851-1991 仪器、仪表用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
- GB/T 12850-1991 计算器用扭曲向列型液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
标准编号:GB/T 12843-1991
标准名称:半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
英文名称:Generalprinciple of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits’ parameters for semiconductor integrated circuits
发布日期:1991-04-28
实施日期:1991-12-01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草人
起草单位
北京机械自动化所