立即下载标准文件- GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
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GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
标准编号：GB/T 14032-1992
标准名称：半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
起草单位
上海元件五厂
标准范围
本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环）电参数测试方法的基本原理。