GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
标准编号:GB/T 15653-1995
标准名称:金属氧化物半导体气敏元件测试方法
英文名称:Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期:1995-07-24
实施日期:1996-04-01
归口单位:工业和信息化部(电子)
执行单位:工业和信息化部(电子)
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草人
起草单位
电子工业部标准化研究所
标准范围
本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件(以下简称元件)性能参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。 本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试,其他气敏元件亦可参照使用。