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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
标准编号：GB/T 4937-1995
标准名称：半导体器件机械和气候试验方法
英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
发布日期：1995-12-22
实施日期：1996-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
起草单位
上海市电子仪表计量测试所
标准范围
本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。
注:非空腔器件是指器件结构中封装材料与管芯的所有暴睬表面紧密接触且没有任何空间的器件。
本标准已尽可能考虑了IEC 68《基本环境试验规程》。