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GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
标准编号：GB/T 17444-1998
标准名称：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
英文名称：The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
发布日期：1998-07-30
实施日期：1999-05-01
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
起草单位
中国科学院上海技术物理研究所
标准范围
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。 本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵焦平面。