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GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
标准编号：GB/T 17473.2-1998
标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of fineness
发布日期：1998-08-19
实施日期：1999-03-01
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
执行单位：全国有色金属标准化技术委员会
主管部门：中国有色金属工业协会
起草人
起草单位
昆明贵金属研究所