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GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
标准编号：GB/T 11685-2003
标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
发布日期：2003-07-07
实施日期：2004-01-01
归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
执行单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草人
起草单位
核工业标准化研究所
标准范围
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。