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GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
标准编号：GB/T 4589.1-2006
标准名称：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
英文名称：Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
发布日期：2006-10-10
实施日期：2007-02-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
罗发明、陈裕昆、金毓铨
起草单位
中国电子技术标准化研究所
标准范围
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。