GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

国家标准
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标准编号:GB/T 17473.3-2008

标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

英文名称:Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance

发布日期:2008-03-31

实施日期:2008-09-01

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

执行单位:全国有色金属标准化技术委员会

主管部门:中国有色金属工业协会

起草人

金勿毁、刘继松、李文琳

起草单位

贵研铂业股份有限公司

标准范围

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。

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