GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

标准编号：GB/T 22319.8-2008

标准名称：石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

发布日期：2008-08-06

实施日期：2009-01-01

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

执行单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

章怡、姜连生

起草单位

中国电子元件行业协会压电晶体分会

标准范围

GB/T 22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外，本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C0、动态电容C1和动态电感L1的测量夹具，其频率范围为1MHz～150MHz，采用基于IEC 60444-5-1995的自动网络分析仪。

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