GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

标准编号：GB/T 23413-2009

标准名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method

发布日期：2009-04-01

实施日期：2009-12-01

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

执行单位：全国微束分析标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

起草人

方建锋、郑毅、李琪

起草单位

钢铁研究总院、首钢技术研究院

标准范围

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。 本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

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