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GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法
标准编号：GB/T 25184-2010
标准名称：X射线光电子能谱仪检定方法
英文名称：Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
发布日期：2010-09-26
实施日期：2011-08-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草人
王水菊、时海燕、丁训民
起草单位
福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
标准范围
u3000u3000本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。