- GB/T 28562-2012 YVF系列变频调速高压三相异步电动机技术条件(机座号355~630)
- GB/T 28541-2012 ±800kV高压直流换流站设备的绝缘配合
- GB/T 1866-2012 中性染料 染色色光和强度的测定
- GB/T 28620-2012 再制造率的计算方法
- GB/T 28423-2012 电子收费 路侧单元与车道控制器接口
- GB/T 16159-2012 汉语拼音正词法基本规则
- GB/T 28493-2012 瓶装、罐装和其它封装饮料自动售货机性能试验方法
- GB/T 28416-2012 人工大气中的腐蚀试验 交替暴露在腐蚀性气体、中性盐雾及干燥环境中的加速腐蚀试验
- GB/T 28540-2012 铀尾矿(渣)氡-222析出率估算方法
- GB/T 2402-2012 阳离子染料 染腈纶时对其他各种织物沾色的测定
GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法
标准编号:GB/T 5201-2012
标准名称:带电粒子半导体探测器测量方法
英文名称:Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期:2012-06-29
实施日期:2012-11-01
归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会
执行单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草人
李志勇、王军
起草单位
中核(北京)核仪器厂
标准范围
本标准规定了带电粒子半导体操测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体操测器。 全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。