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GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
标准编号：GB/T 4937.4-2012
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
李丽霞、陈海蓉、崔波
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
标准范围
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。