GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶

国家标准
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标准编号:GB/T 29504-2013

标准名称:300mm 硅单晶

英文名称:300mm monocrystalline silicon

发布日期:2013-05-09

实施日期:2014-02-01

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

起草人

闫志瑞、孙燕、楼春兰、卢立延、张果虎

起草单位

有研半导体材料股份有限公司、万向硅峰电子股份有限公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、宁波立立电子股份有限公司

标准范围

本标准规定了直径300mm、p型、(100)晶向、电阻率0.5Ω·cm~20Ω·cmm硅单晶的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于由直拉法制备的硅单晶,主要用于制作满足集成电路IC用线宽0.13μm及以下技术需求的300 mm硅单晶抛光片。

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