GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

国家标准
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标准编号:GB/T 32282-2015

标准名称:氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

英文名称:Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy

发布日期:2015-12-10

实施日期:2016-11-01

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

起草人

曾雄辉、张燚、刘争晖、邱永鑫、董晓鸣、牛牧童、王建峰、徐科

起草单位

中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、苏州纳维科技有限公司

标准范围

本标准规定了用阴极荧光显微镜法测试氮化镓单晶位错密度的方法。 本标准适用于位错密度在1×10^3 个/cm2~5×10^8 个/cm2 之间的氮化镓单晶中位错密度的测试。

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