GB/T 17170-2015 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法

国家标准
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标准编号:GB/T 17170-2015

标准名称:半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法

英文名称:Test method for the EL2 deep donor concentration in semi-insulating gallium arsenide single crystals by infrared absorption spectroscopy

发布日期:2015-12-10

实施日期:2016-07-01

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

起草人

何秀坤、李静、张雪囡

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电子材料行业协会、天津市环欧半导体材料技术有限公司

标准范围

本标准规定了半绝缘砷化镓单晶深施主 EL2浓度的红外吸收测试方法。 本标准适用于电阻率大于10^6 Ω·cm 的非掺杂和碳掺杂半绝缘砷化镓单晶深施主 EL2浓度的测定。 本标准不适用于掺铬半绝缘砷化镓单晶深施主 EL2浓度的测定。

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