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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
标准编号：GB/T 35007-2018
标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
陈雁、罗彬、李锟、蔡志刚、郭超、王会影、邬海忠、钟科
起草单位
成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市众志联合电子有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
标准范围
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。