GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

标准编号：GB/T 35003-2018

标准名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

英文名称：Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory

发布日期：2018-03-15

实施日期：2018-08-01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

罗晓羽、董艺、刘妙、谢休华、郭晓宇、高硕

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳市国微电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、成都华微电子科技有限公司

标准范围

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。

本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

标准文档截图