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GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法
标准编号：GB/T 36477-2018
标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
菅端端、陈大为、冯光涛、倪昊、田万廷、高硕、钟明琛、罗晓羽、赵子鉴、董艺、闵昊、刘刚
起草单位
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、复旦大学
标准范围
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。