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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
标准编号：GB/T 36655-2018
标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
英文名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草人
封丽娟、李冰、曹家凯、吕福发、陈进、夏永生、阮建军、王松宪
起草单位
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子有限公司、江苏联瑞新材料股份有限公司
标准范围
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5％以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。