GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

标准编号：GB/T 4937.11-2018

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

张天福、高金环、于学东、崔波、张艳杰、彭浩、李树杰、裴选、迟雷

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

标准范围

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时，优先采用空气一空气温度循环试验。

本试验也可采用少量循环(5次～10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。

本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明，本试验被认为是破坏性的。

本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准文档截图