GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

标准编号：GB/T 1550-2018

标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法

英文名称：Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials

发布日期：2018-12-28

实施日期：2019-11-01

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

起草人

梁洪、王莹、王昕、王飞尧、邱艳梅、刘晓霞、刘新军、徐远志、肖宗杰、赵晓斌、高英、黄黎、徐红骞、杨旭、张园园、程小娟、潘金平

起草单位

乐山市产品质量监督检验所、广州市昆德科技有限公司、浙江海纳半导体有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司、中国计量科学研究院、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、新特能源股份有限公司、峨嵋半导体材料研究所、中锗科技有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司

标准范围

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。

本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。

本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。

标准文档截图