标准编号：YS/T 26-2016
标准名称：硅片边缘轮廓检验方法
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
归口单位：
批准发布部门：工业和信息化部
本标准规定了硅片边缘轮廓（包含切口）的检验方法。
本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓（包含切口），砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。
立即下载标准文件