立即下载标准文件- SJ/T 1826-2016 半导体分立器件 3DK100型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范
- SJ/T 1486-2016 半导体分立器件 3CG180型硅ＰＮＰ高频高反压小功率晶体管详细规范
- SJ/T 11655-2016 信息技术 移动存储 移动硬盘通用规范
- SJ/T 1831-2016 半导体分立器件 3DK28型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范
- SJ/T 11641-2016 印制板钻孔用盖板
- SJ/T 10484-2016 铁路客车用镉镍蓄电池（组）规范
- SJ/T 11591.4.2.1-2016 立体显示器件 第4-2-1部分：自由立体显示器件测量方法—光学和光电
- SJ/T 10410-2016 永磁铁氧体材料
- SJ/T 11460.3.3-2016 液晶显示用背光组件 第3-3部分：电视接收机用LED背光组件空白详细规范
- SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
标准编号：SJ/T 11631-2016
标准名称：太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
发布日期：2016-04-05
实施日期：2016-09-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
起草人
陈佳洵、贺东江、黄黎 等
起草单位
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
标准范围
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。 本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有各方协商。