- SJ/T 31001-2016 设备完好要求和检查评定方法编写导则
- SJ/T 99-2016 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列
- SJ/T 2318-2016 扬声器用铝镍钴系永磁体
- SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
- SJ/T 11588-2016 BDS/GPS射频与基带一体化模块性能要求与测试方法
- SJ/T 11462.3-2016 电子设备用编码器 第3部分:分规范化 绝对型旋转编码器
- SJ/T 11462.2-2016 电子设备用编码器 第2部分:分规范 增量型旋转编码器
- SJ/T 31024-2016 数控车床完好要求和检查评定方法
- SJ/T 31025-2016 数控坐标磨床完好要求和检查评定方法
- SJ/T 11607-2016 指纹识别设备通用规范
SJ/T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法
标准编号:SJ/T 11461.5.3-2016
标准名称:有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法
发布日期:2016-01-15
实施日期:2016-06-01
归口单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门:工业和信息化部
起草人
谢静、崔邵智、刘艳玲 等
起草单位
昆山维信诺显示技术有限公司、北京维信诺科技有限公司、昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司等
标准范围
SJ/T 11461本部分规定了OLED显示屏和显示模块的残像和寿命的标准测试条件和测试方法。本部分主要适用于显示屏和显示模块。