SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容

标准编号：SJ/T 2658.4-2015

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容

发布日期：2015-10-10

实施日期：2016-04-01

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

张戈、赵英

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

标准范围

本部分规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

标准文档截图