JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性测量方法

机械行业标准

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标准编号：JB/T 9495.7-1999

标准名称：光学晶体光学均匀性测量方法

发布日期：1999-08-06

实施日期：2000-01-01

归口单位：

批准发布部门：国家机械工业局

起草人

起草单位

标准范围

本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为：△η=±1×10^(-6)。

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