标准编号:JB/T 9495.7-1999
标准名称:光学晶体光学均匀性测量方法
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000-01-01
归口单位:
批准发布部门:国家机械工业局
本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为:△η=±1×10^(-6)。