SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法

电子行业标准
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标准编号:SJ/T 11471-2014

标准名称:发光二极管外延片测试方法

发布日期:2014-10-14

实施日期:2015-04-01

归口单位:工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门:工业和信息化部

起草人

潘尧波、丁晓民

起草单位

上海蓝光科技有限公司、山东华光光电子有限公司

标准范围

本标准规定了可见光发光二极管外延片(以下简称外延片)的几何参数、表面缺陷、结构参数及光电参数的测试方法。本标准适用于镓砷磷系、镓铝砷系、铝镓铟磷系及铝镓铟氮系外延片。

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