立即下载标准文件- JB/T 6237.3-2008 电触头材料用银粉化学分析方法 第3部分：邻菲罗啉分光光度法测定铁量
- JB/T 9226-2008 砂型铸造用涂料
- JB/T 8708-2014 300MW～600MW汽轮发电机无中心孔转子锻件 技术条件
- JB/T 11870.1-2014 重型弯管机 第1部分：参数
- JB/T 11849-2014 影院用银幕架系统
- JB/T 8468-2014 锻钢件磁粉检测
- JB/T 9412-2014 16mm电影放映画面的位置和尺寸
- JB/T 9908.1-2014 卧轴圆台平面磨床 第1部分：型式与参数
- JB/T 11771-2014 机床 高速精密动力卡盘 分类和技术条件
- JB/T 11510-2013 电动搅拌器
JB/T 7777.1-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量
标准编号：JB/T 7777.1-2008
标准名称：银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定锡量
发布日期：2008-02-01
实施日期：2008-07-01
归口单位：全国电工合金标准化技术委员会
批准发布部门：国家发展和改革委员会
起草人
谢永忠、陆尧 等
起草单位
桂林电器科学研究所、上海电科电工材料有限公司等
标准范围
JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。 本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡质量分数的测定。测定范围：3.00%～10.00%。