YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

标准编号：YS/T 702-2009

标准名称：X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

发布日期：2009-12-04

实施日期：2010-06-01

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

秦文忠、邓文军 等

起草单位

中国铝业有限公司广西分公司、中国铝业有限公司郑州研究院等

标准范围

本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。

标准文档截图