SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

电子行业标准
46浏览

标准编号:SJ/T 11399-2009

标准名称:半导体发光二极管芯片测试方法

发布日期:2009-11-17

实施日期:2010-01-01

归口单位:中国电子技术标准化研究所

批准发布部门:工业和信息化部

起草人

鲍超、胡爱华

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

标准范围

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

标准文档截图

下载信息


立即下载标准文件

大家都在看