SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

电子行业标准

33浏览

标准编号：SJ/T 10741-2000

标准名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

发布日期：2000-12-28

实施日期：2001-03-01

归口单位：

批准发布部门：信息产业部

起草人

起草单位

标准范围

本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。

标准文档截图

下载信息

立即下载标准文件