立即下载标准文件- SJ/T 10636-1995 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范:调频无线电设备用压电陶瓷滤波器
- SJ/T 10565-1994 印制板组装件装联技术要求
- SJ/T 10588.20-1994 DB-473型电子玻璃技术数据
- SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法
- SJ/T 10640-1995 压电滤波器电性能测试方法
- SJ/T 10561-1994 载波电话通信设备型号命名方法
- SJ/T 10579-1994 断路器用玻璃真空开关管空白详细规范
- SJ/T 10588.23-1994 DB-489型电子玻璃技术数据
- SJ/T 10388-1993 电子工业专用设备可靠性术语
- SJ/T 10035-1991 FC--620F型电子管
SJ/T 11207-1999 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
标准编号：SJ/T 11207-1999
标准名称：钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
归口单位：
批准发布部门：信息产业部
起草人
起草单位
标准范围
本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。