T/ZZB 0497-2018 声表面波器件用单晶晶片

浙江省质量协会
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标准编号:T/ZZB 0497-2018

标准名称:声表面波器件用单晶晶片

英文名称:Single crystal wafers for surface acoustic wave device applications

发布日期:2018-08-31

实施日期:2018-09-30

团体名称:浙江省品牌建设联合会

起草人

卢明达、黄顺民、李勇、岳高东、崔坤、贝伟斌、胡少勤、史向龙、杭州明、杨攀、朱卫俊、宋松、林毅、施旭霞

起草单位

中电科技德清华莹电子有限公司、浙江方圆检测集团股份有限公司、中国电科第二十六研究所、北京航天微电科技有限公司

标准范围

本标准规定了单晶晶片的术语和定义、基本要求、产品要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存、质量承诺。

本标准适用于人造石英(QZ)、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸镓镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)器件的基片材料。

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