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T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
标准编号：T/CSPSTC 25-2019
标准名称：硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
英文名称：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)
发布日期：2019-08-28
实施日期：2019-11-15
团体名称：中国科技产业化促进会
起草人
丁建、童翔、李璇、陈振、史振亮、姚冀众、李志坚、蒋猛、薛俊明、卢成绪、郝宇花
起草单位
能移动能源控股集团有限公司、东泰高科装备科技有限公司北京分公司、杭州纤纳光电科技有限公司、深圳市创益科技发展有限公司、成都中建材光电材料有限公司、河北汉盛光电科技有限公司、标准联合咨询中心股份公司
标准范围
本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的范围、术语和定义、装置、试样、程序、数据处理和试验报告。
本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。