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T/CSA 047-2019 发光二极管热阻抗测试方法
标准编号：T/CSA 047-2019
标准名称：发光二极管热阻抗测试方法
英文名称：Measurement Method for Real Thermal Resistance and Impedance of Light Emitting Diodes
发布日期：2019-12-30
实施日期：2019-12-30
团体名称：中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）
起草人
樊嘉杰、郭伟玲、李松宇、杨卫桥、陈威、夏明颖、林丞、邓亮、潘明清、黄立敏、吕天刚、黄杰、刘东月、张志宽、曾平、夏誉、区建鹏、裴小明、陈元闪、李倩、王建平、吕鹤男、丛海云
起草单位
常州市武进区半导体照明应用技术研究院、北京工业大学、河北立德电子有限公司、厦门华联电子股份有限公司、常州星宇车灯股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、国家半导体器件质量监督检验中心、深圳市聚飞光电股份有限公司、江西省通用节能科技有限公司、杭州华普永明光电股份有限公司、广东三雄极光照明股份有限公司、深圳市瑞丰光电子股份有限公司、福建中科芯源光电科技有限公司、杭州远方光电信息股份有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司，广州市莱帝亚照明股份有限公司、山西中科潞安半导体技术研究院有限公司
标准范围
本标准规定了一种用于发光二极管（LED）或LED阵列的热特性的电学法热阻测试方法。
本标准适用于直流方式供电的LED，且无自发热的条件下，待测LED的正向电压应与环境温度呈明显线性关系。
本标准适用于实验室环境和小批量的单颗LED和一定结构的LED阵列（包括LED的串联、并联、混联）的稳态和瞬态条件下热阻和结温的测试。
本标准不适用于激光二极管的热阻和结温测试。