T/CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法

标准规范中国电子学会

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标准编号：T/CIE 092-2020

标准名称：自旋转移矩磁随机存储器测试方法

英文名称：Test methods for spin-transfer torque magnetic random-access memory

发布日期：2020-12-21

实施日期：2021-01-25

团体名称：中国电子学会

起草人

赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉

北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司

本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器(Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM)的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。

本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。