DB44/T 1905-2016 超高频射频识别（RFID）芯片测试方法

标准编号：DB44/T 1905-2016

标准名称：超高频射频识别（RFID）芯片测试方法

英文名称：Test methods for Ultra-High Frequency radio frequency identification chips

发布日期：2016-09-29

实施日期：2016-12-29

起草人

文光俊、李建、蒋晖、赵文强、王耀、徐永键、徐广健、陆许明、罗国章、程文彬、冷小冰、闫胜利、万其明、王伟

起草单位

中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司

标准范围

本标准规定了超高频（800/960Mz）射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试内容与方法。

本标准适用于超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试。

标准文档截图