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DB61/T 1448-2021 大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
标准编号：DB61/T 1448-2021
标准名称：大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
英文名称：Intermittent operation life Test specification for high-power discrete semiconductor devices
发布日期：2021-03-22
实施日期：2021-04-22
起草人
王嘉蓉、安海华、薛红兵、赵辉
起草单位
西安卫光科技有限公司、中电科西安导航技术有限公司、西安西岳电子技术有限公司
标准范围
本文件规定了大功率半导体分立器件（以下简称器件）间歇寿命试验的术语和定义、试验系统、试验程序、失效判据及试验报告的要求。
本文件适用于大功率双极型晶体管、场效应晶体管、绝缘栅场效应晶体管、二极管等半导体分立器件的间歇寿命试验。