GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

国家标准
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标准编号:GB/T 42838-2023

标准名称:半导体集成电路 霍尔电路测试方法

英文名称:Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit

发布日期:2023-08-06

实施日期:2023-12-01

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

起草人

尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明

起草单位

中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所

标准范围

本文件规定了半导体集成电路霍尔电路(以下称为器件)电特性测试方法。

本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

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