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SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
标准编号：SJ/T 11777-2021
标准名称：半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
英文名称：Technology requirements and test methods for curve tracers calibrators
发布日期：2021-03-05
实施日期：2021-06-01
提出单位：全国电子测量仪器标准化技术委员会
归口单位：全国电子测量仪器标准化技术委员会
批准发布部门：工业和信息化部
起草人
李洁、刘冲、张珊、胡鹏、宋有聚
起草单位
中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司
标准范围
本标准规定了半导体管特性图示仪校准仪(以下简称“校准仪”)的术语和定义、技术要求和测量方法。
本标准适用于直流电压源输出范围不超过0.01V~5000V，直流电流源输出范围不超过10nA~10A，取样电阻标称范围不超过0.005Ω~10MΩ，阶梯电压归一化变换范围不超过0.1V~20V，阶梯电流归一化变换范围不超过10μA~20A，阶梯电压表测量范围不超过0.01V/阶~10V/阶，阶梯电流表测量范围不超过0.1μA/阶~10A/阶，脉冲电流表测量范围不超过10A~1000A的校准仪。