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GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
标准编号：GB/T 42848-2023
标准名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
英文名称：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟
起草单位
成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
标准范围
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。
本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。