GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

标准编号：GB/T 43063-2023

标准名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法

英文名称：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors

发布日期：2023-09-07

实施日期：2024-01-01

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟

起草单位

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司

标准范围

本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分（TDI）CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。

本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。

标准文档截图